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Projektbeispiele

02 - IC-Testsystem, skalierbar für variable Anzahl von Testsites

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Zeitraum:

17 Monate, 2004 - 2006.

Firma:

MICRONAS GmbH, Freiburg.

Rolle:

Verantwortlich für Architektur und Entwicklung der Software.

Projekt:

Überarbeitung aller Software-Komponeneten eines PC-basierten IC-Testsystem für Automotive-Sensorchips. Entwicklungsziele: Unterstützung paralleler Testausführung auf einer variablen Anzahl von Testsites, Optimierung der Testzeiten durch Multithreading und Einsatz von TSL-Scrips in Keithley SMUs 2602, Bereitstellung eines objektorientierten Frameworks für Testprogramme. Besonderes Augenmerk beim SW-Architekturentwurf galt der Unabhängigkeit der Testprogramme von der Ausbaustufe der Testhardware (Anzahl der Testsites).

Verantwortliche Durchführung aller Projektphasen, von
Anforderungsermittlung, UML-Modellierung, Implemetierung,
Inbetriebnahme und Dokumentation.

In der Startphase wurde die Migration von einzelnen Komponenten nach .NET untersucht. Dieser Weg wurde wegen seinerzeitiger Probleme mit der Interoperabilität zwischen .NET und Legacy-DLLs mittels IJW (It Just Works) nicht weiter verfolgt.

Software:

Win XP, Visual Studio 6.0, C++, DCOM, ATL, STL, NI-VISA.

Hardware:

PC, VXI-Bus, GPIB-Bus, Keithley SMU 2602.

Bild: Nasca Lines, Peru, 200 v.Chr. - 600 n.Chr.

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